技术编号：14958164
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本公开涉及精密度量，更具体地涉及用于坐标测量系统中使用的接触探针的电路构造。背景技术坐标测量系统例如一维或三维测量系统(比如坐标测量机(CMM))可以在接触探针的触针接触工件时通过使用接触探针来触发坐标测量仪的读取来获得所检查的工件的测量结果。美国专利第5,526,576号(’576专利)中描述的一种示例性现有技术CMM(其全部内容通过引用并入本文)包括用于接触工件的接触探针、包括用于移动接触探针的多个驱动器的移动机构、以及包括与在接触探针头中或从接触探针头处理信号有关的特征的相关电子系统。接触...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。