技术编号：14958217
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及测量技术领域。特别地，本发明涉及借助电磁波的填充物位测量。背景技术拓扑检测用填充物位测量装置可用于确定容器中的填充材料或散装材料的填充物位。这种测量装置通过电磁波来采样填充材料表面和/或散装材料表面，并且在假定填充材料下方的表面区域是已知的情况下，这种测量装置还能够利用从采样获得的与填充材料和/或散装材料的三维表面拓扑相关的信息，以获得填充材料的体积，并且/或者在密度已知的情况下获得质量或其它能够从中获得的变量。对于采样，来自电磁波的波束在填充材料或散装材料上方被引导，并且在各种角度下...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。