技术编号：14958549
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于检查试样、尤其是在光片显微镜中检查试样的方法和设备。背景技术在SPIM技术(选择性光片照明显微镜)中进行层式照射试样，该SPIM技术允许比例如在点式扫描试样时更快速地并且更珍惜试样地检测图像数据。SPIM技术的已知的应用领域是荧光显微镜领域，其中，利用激光激励在试样中的荧光。在这里，在SPIM技术中仅仅在一个照射光片(也称为“光带”)中发生激励。由此避免了在其它平面中的照射光损坏试样。根据SPIM技术工作的光学设备在DE 102 57 423 A1中有所描述。在该显微镜中利用薄...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。