技术编号：14986629
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及测量平台技术领域，尤指一种微调偏移测量平台装置。背景技术习知的微调平台装置被广泛地运用于各种自动化精密加工的定位、加工与测试场合上，并能搭配各种光学元件或检测仪器，以能够进行高精密度的测量或检验作业。目前常见微调平台装置，请同时参阅图13、图14所示，其主要具有一基座40与一偏移座50，该基座40两侧皆具有一长条型的凹陷区41，二长条型的凹陷区41内侧皆具有一阶梯状的凸面42，并皆提供一第一滑块43固接于该凸面42上，又该基座40中央处形成一具有容置区的凸肋44，该偏移座50概呈一矩形...
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