技术编号:14994745
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及检查领域,特别是涉及检查检查对象体的良好或不良的检查系统及方法。背景技术最近,消费者对制品品质的标准日益提高,在生产制品方面,制造商在制品的生产过程、组装过程、中间过程及最终组装完成过程中倾注努力去除不良品。为了去除制品的不良,利用多样的检查系统,检查制品的良好(GOOD orPASS)及不良(NG)。一般而言,检查系统将投影部形成的图案光照射于制品,即,照射于检查对象体,拍摄部接受从检查对象体反射的光而获得检查对象体的图像。另外,检查系统根据事先设置的基准信息,对检查对象体的图像执行...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。