技术编号:15017303
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光学测量技术领域,具体涉及一种亮度测量装置。【背景技术】在光学检测领域,光学探测器的性能直接关系到测试结果的准确性和评价的科学性。目前硅光电池、光电倍增管、二维阵列探测器已经成为光辐射测量领域内常使用的光学探测器件。对于不同的探测器,其性能各具特点,其中硅光电池具有高线性度、宽动态范围的特点,并在各种光测量场合中得到使用;二维阵列探测器独特的成像技术使其在图像检测、光谱检测中应用广泛,但是其缺点在于灵敏度不够,大动态范围线性度较差;而光电倍增管的优势在于灵敏度很高,但缺点是线性动态范围...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。