技术编号:15031199
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测试设备,具体涉及一种四工位热管温差测试装置,用于测量热管一端在恒定温度下两端的温差和响应时间。背景技术随着电子设备越来越向微型化和高性能方向发展,电子元器件的功耗越来越高,热流密度越来越大,芯片的发热问题已经成为制约电子设备发展的主要问题。热管是一种高效的导热原件,其导热系数是金属的几十到上百倍,合理利用能有效解决电子设备的发热问题。实际热管生产过程中,往往需要对热管性能进行快速评估,比较通用的方法是将热管一端的固定长度插入恒温的水中,然后测量一定时间内另一端的温度,根据两端的温...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。