技术编号:15116120
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于超大晶粒尺寸测量技术领域,特别涉及基于二维X射线检测技术的超大晶粒尺寸的无损检测方法。背景技术晶粒尺寸及其分布是反映金属材料微观组织的重要特征参数,并且直接影响金属材料的力学性能和物理性能,所以也是实际生产工艺控制中一个重要参数。同时,晶界对于微观下材料内部磁畴等的运动有一定的影响。因此,超大晶粒尺寸检测无论对于基础理论研究或实际工业生产均具有重要意义,尤其晶粒尺寸在线检测是现代化大规模工业生产急需的技术。目前,对于晶粒的晶粒尺寸和晶界检测还普遍是取样处理后检测的方法,例如金相法,背散...
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