技术编号：15144875
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及光学薄膜制备、光学微器件制备及遥感探测领域，特别涉及一种扫描式FP腔窄带滤光高光谱成像，具体是指一种通过压电陶瓷扫描FP腔腔长，实现周期性多层介质膜窄带滤光进行高光谱成像的装置。背景技术70年代末80年代初，在研究归纳各种地物光谱特征的基础上，大家逐渐认识到，如果能实现连续的窄波段成像，那么就有可能实现地面矿物的直接识别，由此产生了光谱和图像结合为一体的成像光谱技术。1983年，美国喷气推进实验室研制出第一台航空成像光谱仪(AIS-1)，随后包括中国在内的许多国家都研制成功了一系列...
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