技术编号:15148569
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子显微镜领域,尤其涉及一种通用型电子显微镜样品台座。背景技术扫描电镜(SEM),全称扫描电子显微镜(scanning electron microscope),是一种利用电子束扫描样品表面从而获得样品信息的电子显微镜。它能产生样品表面的高分辨率图像,且图像呈三维,扫描电子显微镜能被用来鉴定样品的表面结构。它由三大部分组成:真空系统,电子束系统以及成像系统。扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性观察技术,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点...
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