技术编号：15176972
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及无机非金属新材料性能的测试技术领域，特别是涉及一种测量介质厚度的测量装置。背景技术介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质介电常数，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，从而为提高材料的性能提供依据。在介电常数的测试过程中，使用现有的测量装置测量凹槽中样品粉末的厚度时，由于凹槽中样品粉末表面的高度基本与凹槽高度齐平，通过旋转测微杆使测量装置的上极片接触至粉末时，会使少量粉末溢出，掉落在测量装置的平台上或者是缝隙中，...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。