技术编号:15265287
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及单晶硅的制备方法技术领域,尤其涉及一种稳态晶体生长方法。背景技术许多半导体晶体、光学晶体及各种功能晶体均可以通过熔体法进行单晶生长,这些单晶材料广泛应用于激光、通信、导航和雷达等领域。高质量的晶体是制备优异器件的基础。单晶体内的温度梯度越小,生长速度越慢,机械振动越小,晶体质量就越高。通常存在的晶体生长方法有提拉法、坩埚下降法(垂直布里奇曼法)、垂直温度梯度法、区熔法、焰熔法、冷坩埚凝壳法等。其中垂直温度梯度法由于不存在机械振动,仅仅通过温度场的变化来控制晶体生长过程,是一种制备高质量...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。