技术编号:15308486
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及具有电流感测部的SiC半导体装置。背景技术以往,已知有具备用于对器件的主电流的电流值进行检测的电流感测部的半导体装置,例如,提出了专利文献1和2所记载的半导体装置。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开平8-46193号公报;专利文献2:日本特开平11-74370号公报。发明内容发明要解决的课题电流感测部通常由比主电流流动的源极部小面积形成。电流感测部与源极部的面积比定义对主电流进行检测时的感测比。然后,通过对在电流感测部中实际上流动的电流值乘以该感测比来计算主电流的电流值。如果面积...
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