技术编号：15401047
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及硬盘可靠性测试领域，特别涉及一种振动环境下批量硬盘加速退化试验方法及装置。背景技术加速寿命试验(ALT)是评价产品是否达到高可靠和长寿命需求的唯一方法。加速寿命试验有三种不同的方法：一是在正常工作条件下增大受试产品的使用频率；二是将受试产品放在比正常条件下更加严酷的条件中工作；三是针对受试产品某种退化机理如机械部件的磨损施加加速应力，此即为加速退化试验(ADT)。在硬盘可靠性测试领域，传统方法对于硬盘这类高可靠，长寿命产品而言，在有限时间内，即使通过加速寿命试验也难以获得足够的失效数据...
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