技术编号：15442101
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及辐射检查技术领域，特别涉及一种余辉检测装置和余辉检测方法。背景技术余辉是指闪烁探测器的外在激发信号(如射线束或可见光等)消失后，闪烁探测器依然会维持一段时间的可见光的发射。余辉的强度大致随时间呈指数衰减。余辉一般用外在激励信号消失后一段时间的相对强度值来衡量。例如，一个典型的碘化铯(铊)(CsI(Tl))闪烁探测器，外在激发信号(如X射线束)存在时该闪烁探测器的输出信号为单位1，在激发信号消失后10ms时闪烁探测器的输出信号约为5000ppm左右，即该闪烁探测器在激发信号消失10ms时...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。