技术编号：15497
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。专利摘要本实用新型涉及一种半导体点式温度采集系统，所述系统利用半导体材料在入射光波长不变时其光反射率随着温度的变化而变化这一特性，通过测量半导体材料反射光的强弱来实现对被测对象进行测温。本实用新型具有高绝缘性、抗电磁干扰、抗腐蚀、防爆、防雷击的特点，能在恶劣的坏境下工作；测量精度高，范围大，反应灵敏；温度检测探头结构简单、尺寸小巧、安装方便；可多机组网进行检测的特点。专利说明一种半导体点式温度采集系统 技术领域 [0001] 本实用新型涉及电力设备综合监控领域使用的传感检测系统技术领域，尤其涉及 一种半导体点式...
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