技术编号:15516176
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种膜厚度测量方法和一种制造汽车的方法,并且涉及例如一种测量包括有层状地层压的多个膜的涂膜的各层的膜厚度的膜厚度测量方法、以及一种制造汽车的方法。背景技术汽车的涂膜例如是多层膜,测量多层膜的各层的膜厚度的方法主要可以分为例如以破坏性的方式测量待测对象的破坏性的测量方法和以非破坏性的方式测量待测对象的非破坏性的测量方法。破坏性的测量方法例如是从涂布有待测涂膜的主体中切削样本,并通过放大显微镜直接测量其切削表面的方法。另一方面,例如在日本未经审查专利申请公报No.2015-178980中所...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。