技术编号：15516527
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种电子元器件的筛选方法，尤其涉及一种基于低频宽带噪声的高速光耦的筛选方法，属于电子元器件质量与可靠性领域。(二)背景技术：光电耦合器，简称光耦，是一种应用二次集成工艺，将发光元件、光接收元件以及信号处理电路等封装在同一管座内的器件。其具有体积小、寿命长、无触点、抗干扰性强等多种优点，可以替代继电器、变压器、斩波器等，用于隔离电路、开关电路、数模转换、长线传输、过流保护、高压控制、电平匹配、线性放大等众多场合。随着我国目前航空航天及武器装备的发展，对光耦的需求量越来越大，对参数指标的要...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。