技术编号:15516598
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及测试装置技术领域,尤其是一种用于X波段收发组件的低温测试盒。背景技术X波段收发组件的部分性能指标测试需在低温环境下进行。使用现有的低温箱进行测试,测试电缆需穿过试验箱的侧壁。测试组件较多时,侧壁电缆接口气密很难保证,从而导致试验箱的降温相率低下,影响生产效率;测试组件较少时,很难满足生产任务。发明内容本申请人针对上述现有生产技术中的缺点,提供一种低温测试盒,从而可以方便的完成X波段收发组件的测试工作,工作效率高,工作可靠性好。本发明所采用的技术方案如下:一种低温测试盒,包括底板,所述底...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。