技术编号：15522199
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及光学镜片测量技术领域，尤其涉及一种高精度测厚仪。背景技术目前测厚仪的底板都是用的大理石，在光学行业测量都是要利用光胶板做基底，再跟大理石板接触，测量光胶板上产品的厚度，因光胶板与大理石板接触面积大，当大理石的接触面只要有些微颗粒脏点，就会影响到测量精度。本实用是通过大理石上贴三个能够测量光胶板接触面范围内的钢珠，利用三点成面即可很精准测量产品的精度需求，提高了光学镜片的测量精度。实用新型内容本实用新型的目的是为了解决现有技术中测量精度不高的问题，而提出的一种高精度测厚仪。为了实现上...
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