技术编号:15574602
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本申请要求2016年2月2日提交的申请号为62/290,140的美国临时专利申请和2016年12月20日提交的申请号为62/436,844的美国临时专利申请的优先权。上述申请的内容以引用方式被包含于此。技术领域本说明书涉及表面暴露于光线时的检测,具体涉及用于检测暴露于紫外线的方法和设备。背景技术紫外线是一种不断由太阳发射的波长约为10纳米~400纳米的光。紫外线对于人类健康可以产生积极影响(例如,通过诱导维生素D的产生),但过度暴露可能是危险的。过度暴露在紫外线下会导致皮肤受损,引起晒伤,并增加...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。