技术编号：15632902
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于超导电子学技术领域，具体涉及一种低温微波表面电阻多模测试装置及方法。背景技术与常规良导体相比，超导材料具有极低的损耗，其微波表面电阻值在微波频段比良导体低2-3个数量级，因此其在微波器件中具有重要的应用。超导材料微波表面电阻的测量能对超导材料的损耗提供量化的参考，对其制备、生产和应用具有重要意义。目前，针对超导微波表面电阻的测量主要思路为采用被测样品构造谐振器，建立谐振器损耗与被测样品微波表面电阻(RS)的关系，通过测量谐振器品质因数，最终得到RS值。最具代表性的是被采用为超导微波表面...
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