技术编号:15648289
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及光外差探测电路技术领域,具体涉及一种用于光外差探测的高信号对比度光电检测电路。背景技术:随着光探测技术的快速发展,光探测在测距、测位移、测速等方面有了广泛的应用。光探测技术主要有两种:光直接探测和光外差探测。光直接探测方法简单,易于实现,但它不能获取信号的全部信息,信噪比低。光外差探测因为具有检测灵敏度高、可获得信号的全部信息、信噪比较高、适用于微弱信号探测、有良好的滤波性能,但光外差探测方法由于参考光与信号光功率相差较大,导致信号对比度偏低。典型声光移频器频移量测量装置中,包括D...
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