技术编号:15696279
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于精密测量领域,特别涉及一种基于参数映射的复杂曲面测量规划方法。背景技术复杂曲面被广泛应用于航空航天、汽车、模具等领域,其精确测量是保证零件最终加工几何精度的重要环节。实际测量时,往往通过在零件表面布置一系列离散采样点,以获得复杂曲面几何形状。为此,对测量路径与测点分布进行合理规划是满足测量精度和效率要求的重要保障。对于面形较复杂的零件,通常采用分区测量的方式。然而,分区过大,则无法精确表示曲面各个部分,影响曲面重建精度;分区过小,则会造成被测“碎片”偏多,测量效率低,且加大了曲面精密拼...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。