技术编号:15702925
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光辐射测量和遥感器定标技术领域,尤其涉及一种基于超连续激光和单色仪的细分光谱扫描定标装置。背景技术溯源于低温绝对辐射计,基于标准探测器的辐射传递链路是现阶段业界公认的一种高精度辐射定标技术链路。采用低温绝对辐射计可以获得标准传递探测器的绝对光谱功率响应度,采用辐亮度几何转换结构(如Gershun管形式),可以由光谱功率响应度得到光谱辐亮度响应度,实现光谱辐亮度溯源至高精度光功率初级基准。低温绝对辐射计是业界公认的当前精度最高的光功率辐射基准,但利用低温绝对辐射计传递光谱辐射信息时,需要...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。