技术编号:15739340
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本公开涉及提供使用内建自测试的零测试时间存储器,更具体而言,涉及一种多端口存储器以允许在执行功能操作时的多端口存储器的零测试时间。背景技术在工业应用(例如,汽车)中,公司可能希望将先进的减少指令集计算机机器(即,ARM)核心从任务模式(即,功能操作)中取出并加入测试模式,同时在任务模式中保持剩余的ARM内核和2级(L2)缓存。此外,在许多工业应用(例如,汽车)中,电子电路需要被连续测试,以便确保可靠性并防止可能导致系统停机的软件和/或硬件故障。因此,在这些工业应用中,需要在执行功能操作的同时进行...
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