技术编号:15740670
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种包括磁化自由层的磁阻效应元件。背景技术作为检测外部磁场的磁场检测装置,已知利用霍尔元件(Hall element)、磁阻效应元件的磁场检测装置(例如参照专利文献1)。现有技术文献专利文献专利文献1:国际公开2008/146809号发明内容然而,要求提高这样的磁场检测装置的磁场检测精度。因此,期望提供一种具有更低的饱和磁场的磁化自由层的磁阻效应元件。作为本发明的一种实施方式的磁阻效应元件,具备:磁化自由层,沿着第一面延伸;介入层,沿着第一面延伸,并且层叠在磁化自由层上;以及磁化固定层...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。