技术编号：15756813
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光学精密无损检测技术领域，特别是涉及一种白光干涉信号背景光强实时分离方法。背景技术光学精密无损检测技术作为超精密检测技术的重要组成部分近年来发展迅速，在航空航天、汽车制造、医疗健康、能源产业及国防安全等方面都有着巨大的应用需求，相应的测量设备在测量范围、测量精度及应用领域方面取得了长足的进步。在这种背景下，目前工业中对光学精密无损检测的需求变得越来越具体化，往往是根据某些特定的测量对象提出要求，这也促使该领域的研究工作向更加精细化的方向发展。白光扫描干涉术作为光学无损检测技术的重要分支...
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