技术编号:15771
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。专利摘要本实用新型公开了一种厚度测量系统,包括至少两组具有不同量程范围的测量装置,其中至少有1组测量装置为X射线测量装置,X射线测量装置为小量程测量装置。本实用新型采用至少2组测量装置,其中至少1组是X射线测量装置,既保证了最终产品的测量精度,也降低了X射线测量装置的输出功率,减少了辐射,也没有测量量程的限制,对产品加工提供了更佳的控制。专利说明一种厚度测量系统 技术领域 [0001]本实用新型涉及计量技术,特别是涉及一种厚度测量系统。 背景技术 [0002]现有的厚度测量方式之一是采用X射线测厚仪,由于X...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。