技术编号：15775291
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于结构无损检测领域，尤其涉及一种有效预测压电薄膜与梯度非均匀基底界面应力分布的方法。技术背景作为新材料的典型代表，梯度非均匀材料在机械、土木工程、航空航天、医学等领域得到了广泛的应用。与传统的均匀材料相比，梯度非均匀材料能够将异质材料的优势结合，并极大地减少由于材料适配引起的应力集中，并提高结构的表面抗磨损性能等，因而受到了各国科学界和工程界的高度重视。然而由于梯度非均匀材料的制备工艺、受载损伤等因素，使得该类材料不可避免地产生缺陷和破坏。因此，探索和发展梯度非均匀材料的无损检测技术成为...
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