技术编号：15806677
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种显示装置残影的测试方法。背景技术为了提高显示装置的性能和质量，在生产过程中，需要对显示装置的分辨率、亮度、对比度、色域、响应时间、残像等级等性能指标进行检测和评定。其中，残像是指影像残留。具体地，当显示装置长时间驱动特定静止画面后，其中的薄膜晶体管受到应力(bias stress)影响或者其中的发光二极管亮度的衰减，造成显示装置发光亮度会发生改变，如此，会导致显示面板显示图像时出现差异，如当显示画面切换至下一个画面时，显示面板上会残留上一个画面的图像，从而造...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。