衬底处理方法及通过所述衬底处理方法制造的半导体器件与流程技术资料下载

技术编号:15810402

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本申请主张在2017年4月13日在美国专利与商标局提出申请的美国临时专利申请第62/485,302号以及在2018年4月12日在美国专利与商标局提出申请的美国专利申请第15/951,626号的权利,所述美国临时专利申请的公开内容全文并入本申请供参考。技术领域一个或多个实施例涉及利用薄膜沉积技术的衬底处理方法以及通过所述衬底处理方法制成的半导体器件,且更具体来说,涉及用于向三维垂直与非(three-dimensional Vertical NAND,3D VNAND)器件的台阶式结构应用接地焊盘(...
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