技术编号:15864727
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种超分辨显微成像方法与系统,具体涉及一种实时/动态三维形貌和纳米级成像方法与系统,应用于激光共焦显微成像、生物荧光检测、微纳米形貌检测和微纳结构写入标记。背景技术所谓超分辨率显微成像(Super resolution microscopy, SIM)是实现超过衍射光学极限的检测方法。一般地,受衍射光学极限的限制,小于光学系统成像分辨率的结构不能被分辨。如显微光学成像系统的分辨率为R=k1λ/NA,式中,k1为比例系数,λ为波长,NA为数值孔径,通过缩短波长、增大物镜的数值孔径NA等途...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。