技术编号：15995078
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于拉曼散射技术领域，尤其涉及一种基于非对称加权最小二乘的拉曼光谱检测基线校正方法。背景技术目前，业内常用的现有技术是这样的：拉曼光谱是一种基于拉曼散射效应的分子振动光谱，其特征峰的位置、强度和峰宽度等信息能够反映出分子的结构特征，因而可以实现对物质成分的检测。然而，在光谱数据的采集过程中，由于有机分子、环境或样品中污染物的荧光影响，测得的光谱常常会发生基线漂移的现象。某些情况下，荧光信号的强度远大于拉曼信号，构成了拉曼光谱检测分析的一个主要障碍。因此，基线校正是拉曼光谱检测的一个必要步骤...
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