技术编号:16129883
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及天线的环境筛选方法,具体涉及一种一种阵列天线的环境筛选方法。背景技术环境应力筛选为发现和排除产品中不良零件、元器件、工艺缺陷和防止出现早期失效,在环境应力下所做的一系列试验。发明内容本发明提供了一种一种阵列天线的环境筛选方法,解决数字阵列天线排除产品中不良零件、元器件、工艺缺陷和防止出现早期失效。本发明通过下述技术方案实现:一种阵列天线的环境筛选方法,主要包括以下步骤:S1.在标准大气压条件下,对受筛产品按产品技术条件规定的项目和要求进行初始功能检测,记录检测数据,检测不合格的产品不进...
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