技术编号:16155246
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种用于判断不可分离薄层材料隐藏在内部绝缘体中时是否具有足够的抗损坏强度的不可分离薄层材料测试台。背景技术在对一些电子材料进行检测的过程中,要求隐藏在电子材料的内部绝缘体重的可分离薄层材料应具有足够的抗损坏强度,因此,需要对电子材料的该性能进行测试。实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种用于判断不可分离薄层材料隐藏在内部绝缘体中时是否具有足够的抗损坏强度的不可分离薄层材料测试台。为实现上述目的,本实用新型采用的技术方案为:一种不可分离薄层材料测试台,包括机架,还包括,设于机架上的...
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