技术编号:16244173
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明的实施例大体上涉及电子装置和操作电子装置的方法,并且更特定而言,涉及用于放大器校准的方法和放大器系统。背景技术在放大器中,由于在放大器内的组件不匹配可发生电压偏移,这可源自由于在放大器中的过程变化的固有偏移,或源自在放大器中的应力相关因素如在放大器中的封装应力。在放大器内固有参数偏移通常可通过在具体温度下在制造设施中校准(例如,修整)放大器来去除。封装应力相关偏移通常需要在整个温度范围中多次校准(例如,修整)或连续校准。然而,在制造设施内多种温度下放大器校准通常耗时并且因此相当昂贵。发明内...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。