技术编号：16287504
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及精密测试技术领域，特别涉及一种使用非精密器件达到高精度测量电阻的方法。背景技术目前市面上的高精度测量设备都需要用到一个甚至是多个高精度的基准源，而通常类似的基准源都是价格非常的昂贵，导致生产成本额外的增加，同时电路的差异也会使基准源的输出存在差异，出现电路损耗的问题，从而影响测试的准确性，进一步的环境因素对基准源也会有相应的干扰，同时增加了维修和保养的费用。发明内容本发明解决的技术问题是提供一种利用非高精度器件达到精密测量电阻的方法。本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种使用非精...
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