技术编号:16308682
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于测试性技术领域,具体涉及相关性理论下的考虑激励测试的诊断关系矩阵生成方法。背景技术故障-测试相关性矩阵,简称相关性矩阵或D矩阵,是被测对象的组成单元故障与测试相关性的一种表示形式,不仅可以用于产品的测试性分析,还可直接利用其进行故障诊断。在产品的故障与测试信息已知的情况下,利用功能框图和信号流程分析可得到产品的D矩阵。在实际应用中,产品的测试通常包括两类:有激励测试(简称激励测试)和无激励测试。激励测试指在测试时必须施加激励信号才能得到有效测试结果,无激励测试指无须施加激励信号即可直接...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。