具有金属通孔的半导体器件的制作方法技术资料下载

技术编号:16317438

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本申请主张在2017年6月08日在韩国知识产权局提出申请的韩国专利申请第10-2017-0071676号的优先权,所述韩国专利申请的公开内容全文并入本申请供参考。技术领域本发明概念的示例性实施例涉及一种半导体器件,且更具体来说涉及一种具有金属通孔的半导体器件。背景技术在例如逻辑电路及存储器等一些半导体器件中,已使用例如接触塞等互连结构来连接到后道工序(back end of line,BEOL)的金属线以及源极及漏极。在高度集成的半导体器件中,线宽度及/或节距可减小或者布线可变得相对复杂,且可能...
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