技术编号:16332062
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于继电器类单机产品性能分析技术领域,涉及一种继电器类单机贮存可靠性评估方法,具体涉及一种结合制造工艺及仿真的继电器类单机贮存可靠性评估方法。背景技术产品的状态主要可以分为工作状态及贮存状态,对于某些一次使用型产品(导弹、汽车气囊、运载火箭等),在使用之前绝大多数时间里,其任务剖面主要处于贮存状态。产品处于贮存状态时,由于受到贮存环境中湿度、温度、振动等的环境应力影响,性能参数会出现不同程度的退化,当超出所规定的失效阈值时,产品失效,无法继续使用。同时,相较于长期处于工作状态的普通产品,上...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。