技术编号:16408410
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光学检测装调技术领域,具体涉及一种两束干涉仪出射平面波光束间角度偏差标定方法,适用于光学系统装调。背景技术光学系统作为天文望远镜、卫星等系统核心部件,其装调精度直接影响了光学系统性能。在系统装调中,涉及到标定两束干涉仪出射平面波角度偏差,标定精度直接影响系统装调精度。目前两束干涉仪出射角度的标定可以通过经纬仪完成,然而该方式测量精度不高,在高精度装调中无法满足实际需求。发明内容针对现有技术存在的问题和迫切技术需求,本发明提出一种两束干涉仪出射平面波角度偏差标定方法,提高在光学系统装调中...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。