半导体装置的制作方法技术资料下载

技术编号:16426737

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本申请主张在2017年6月20号在韩国知识产权局提出申请的韩国专利申请第10-2017-0077667号的优先权,所述韩国专利申请的公开内容全文并入本申请供参考。背景技术本发明概念的各种示例性实施例涉及半导体装置及其制造方法。为了增大半导体装置的集成性,已提议使用多栅极(multi-gate)晶体管,所述多栅极晶体管各自包括位于衬底上的鳍型多沟道有源图案(或硅主体)以及位于所述多沟道有源图案上的栅极。由于多栅极晶体管利用三维沟道,因此可对所述多栅极晶体管进行比例缩放。此外,可在不增加多栅极晶体管...
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