技术编号：16478907
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及数字集成电路测试领域，特别是集成电路可测性设计领域，具体涉及一种测试激励分段及编码方法。背景技术现阶段的数字集成电路扫描测试，通过使用自动测试设备（ATE）的方法，完成全部测试向量的扫描测试。完成一个测试向量的测试需要经历测试激励扫描输入、测试响应生成及测试响应输出三个过程。影响数字芯片测试成本的两个主要因素是测试数据存储开销和测试应用时间开销，已有的测试向量压缩编码方法可以较好的降低测试数据存储开销，但在测试激励的快速输入和测试响应的快速输出方面存在一定的局限性。常用的测试向量压缩编...
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