技术编号:16478931
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本公开涉及电子芯片测试设备技术领域,尤其涉及一种抓取装置及具有该抓取装置的电子芯片测试设备。背景技术目前利用现有芯片测试机对电子芯片进行测试时,例如利用ADVANTEST芯片测试机对内存颗粒进行测试时,都是通过人手拿取内存颗粒,然后再将内存颗粒放置在测试机的测试板上。然而,由于内存颗粒尺寸较小(通常为1.6cm×0.8cm左右),因此较难将内存颗粒拿取,也较难将内存颗粒准确地放置到测试板的芯片颗粒测试槽中。另外,由于人体带有静电,上述直接用人手拿取内存颗粒的抓取方式,容易对内存颗粒造成静电损坏。...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。