技术编号：16519230
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及仪器仪表技术领域的一种分析及测量控制技术,尤其是芯片中ADC的性能测试。背景技术目前现有的大部分ADC芯片测试都需要较大的设备成本或者人力成本投入，针对不同的ADC输出引脚的兼容性也相对单一缺少相应的拓展性，而工控软件又往往仅限于仪器仪表控制。对于芯片来说，一般需要其芯片拥有统一的封装以适用于测试板的针脚。而对于设备来说，除了价格高昂以外，其他一些相对价格较低的仪器又存在着数据采集方法单一和不能完全自动化的瓶颈，在平台搭建和仪器调试上加大了人力和时间成本的投入。同时，除去仪器因素外，一...
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