技术编号:16519247
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光器件制造的技术领域,具体为一种光发射次模块的测试装 置,本发明还提供了一种光发射次模块的测试方法。背景技术目前市场上不同类型的光模块共计100多种,但是这些光模块的核心器 件都是光发射次模块。随着光通信产品的发展,要求光模块的速度越来越高, 成本越来越低,距离越来越长,灵敏度越来越高。然而满足这些特性的光发 射次模块生产、测试精度与数量存在严重矛盾,虽然经过科学家们多年的摸 索,但光发射次模块大规模加工问题一直是高速率、低成本以及长距离光模 块产能的瓶颈;且现有的光发射次模块的测试周...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。