技术编号：16542076
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及显示技术领域，具体地，涉及测试元件组、电学性能测试方法、阵列基板、显示装置。背景技术薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)是目前液晶显示装置以及有源矩阵驱动式有机发光显示装置中的主要驱动元件，薄膜晶体管的性能会直接影响显示装置的显示性能。因此，在TFT基板(即阵列基板)的生产制造过程中，需要对TFT基板的特性值进行监控测试。由于直接测试显示区(即有效发光区，AA区，Active Area)的TFT特性具有难度大、测试缓慢、破坏性测试等缺点，因此，在制作TFT基板...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。