技术编号：16565430
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于耗散型石英晶体芯片开发领域，主要涉及一种砜类聚合物石英晶体芯片的制备及循环使用方法。背景技术耗散型石英晶体微量天平(QCM-D)是一种新型灵敏的质量检测仪器，能有效检测溶液中溶质在石英晶体芯片表面的吸附沉降行为，并提供相应吸附层结构特征、粘弹性系数等性能，具有结构简单、成本低、灵敏度及测量精度高、可实现在线监测等优点，被广泛应用于化学、物理、生物、医学和表面科学等领域中。近年来，使用QCM-D技术解析污染物在膜界面的吸附行为及吸附层结构特征，引起了膜污染研究者的广泛关注。但是，该技术在...
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