技术编号：16577163
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于无损检测领域，具体涉及一种用于相控阵超声仪器和探头的系统性能校准B型试块。背景技术相控阵超声检测技术是一种新型无损检测技术，在进行检测工艺设计之前，一般要求对相控阵超声检测仪器的性能和相控阵探头的性能进行校准，包括仪器的水平线性、垂直线性、扇扫角度的分辨力、扇扫角度范围的测量误差、扇扫成像分辨率等。传统的校准试块中的反射体比较密集，在进行声束校准时，相邻声束孔之间会产生干扰。实用新型内容本实用新型的目的是解决上述现有技术的不足，提供一种用于相控阵超声仪器和探头的系统性能校准B型试块...
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